Cristiana Bolchini e Antonio Miele hanno vinto l’IEEE DFT Best Paper Award 2010 con l’articolo "Reliability-Driven System-Level Synthesis of Embedded Systems". Il premio 2010 è stato assegnato durante l’edizione 2011 di DFT (IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems), un Simposio annuale per gli interessati ai problemi di affidabilità nei sistemi VLSI e tecnologie emergenti. Informazioni più approfondite sono disponibili al sito: http://www.dfts.org/index.htm

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