Synaptic
Responsabile:
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Data inizio: 01/01/2009
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Sommario
Il progetto studia un flusso di progettazione che sfrutta la regolarità nella fabbricazione di dispositivi digitali visto a diversi livelli di astrazione. Il progetto intende verificare il ruolo della regolarità a diversi livelli usando come termine di paragone un flusso di progettazione standard. In particolare, il progetto riguarda l'ottimizzazione della fabbricabilità e la riduzione delle variazioni sistematiche nelle tecnologie nanometriche sfruttando la regolarità a livello architetturale, strutturale e geometrico. Si propone così la creazione di una metodologia e di una suite di strumenti di progetto che estraggono la regolarità a livello architetturale e strutturale e di automatizzare la creazione di celle complesse e regolari che implementano la funzionalità dei modelli estratti. Il progetto sviluppa una nuova metodologia di progetto in cui il concetto di regolarità si propaga attravero tutti i livelli di astrazione:
- Architetturale - i vantaggi della metodologia proposta includono la possibilità di sfruttare le celle complesse e i macro blocchi, fornendo così una maggiore predicibilità delle prestazioni ed una migliore esplorazione dell’architettura nelle prime fasi.
- Logica - i vantaggi includono la creazione di librerie di celle logiche, migliorando così le prestazioni e la predicibilità delle prestazioni.
- Fisica – questo approccio consentirà l'utilizzo di tecniche di litografia a basso costo, rendendo conveniente l’utilizzo di tecniche di litografia più avanzate e così l'uso delle tecnologie più avanzate per semiconduttori.
Risultati del progetto ed eventuali pubblicazioni scientifiche/brevetti
Pubblicazioni:
C. Pilato, F. Ferrandi and D. Pandini, "A Fast Heuristic for Extending Standard Cell Libraries with Regular Macro Cells," in Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI 2010), pp. 23-28, 2010.
C. Pilato, F. Ferrandi and D. Pandini, "A Fast Heuristic for Extending Standard Cell Libraries with Regular Macro Cells," in Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI 2010), pp. 23-28, 2010.